通用、高解析度自由曲面測量系統
新 PGI Freeform 是一個為高精度自由曲面光學元件的測量而設計的通用高解析度系統。提供以下各項的三維光柵/徑向測量和分析:
PGI Freeform 可隨同很多用於定義自由曲面的最新方程一起使用,如:
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散光
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雙錐
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變形非球面
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橢球面
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非均匀有理 B 樣條曲線 (NURBS)
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Zernike 曲面
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點雲
測量的完整性和再現性數十年測量經驗、超精密製造技術和有限元分析優化設計為 Taylor Hobson 的 PGI Freeform 提供支持。這些可確保低噪聲以及測量軸的接近完美的機械運行。
憑藉新的專用軟體介面,很容易設定和分析精確的自由曲面測量。PGI Freeform 的通用性使其成為一個完整的光學測量解決方案。