非接觸式測量


Luphos
提供超高精密非接觸式距離測量,用於工業製造、質量監控和科學研究等領域。Luphos擁有其核心技術多波長干涉 (MWLI®) 的專利權。

生產製造與研發
CCI非接觸式光學干涉儀(非接觸式測量儀器)型號包括CCI HD和CCI MP-HS。該儀器功能強大,適合對高精度三維分析有要求的生產製造和研發等行業。

Zygo 3D Optical Surface Profilers
Optical profilers from ZYGO are white light interferometer systems, offering fast, non-contact, high-precision 3D metrology of surface features. All of Zygo optical profilers include proprietary data analysis and system control software.