LUPHOScan HD 平台是採用於 MWLI® 技術（多波長干涉測量）的干涉掃描測量系統。
旨在執行超精密非接觸式 3D 形狀測量，主要是對非球面透鏡等旋轉對稱表面進行測量。 LUPHOScan HD 平台可以對非球面、球面、平面和輕微自由曲面進行簡單的形狀測量。
這套系統的主要優點包括測量速度快、對不常見的表面形狀（例如扁平頂點或具有反曲點的輪廓）具有高度靈活性，以及最大物體直徑可達 420 公釐。
無與倫比的測量能力
- 最高精度 - 高達 90° 的物體斜度 - 非常適合測量堅固、陡斜以及小型的非球面形狀，包括手機鏡頭模具
- 幾乎所有材料都適用 - 透明、鏡面、不透明、拋光、研磨
- 大球面偏離 - 不受偏離限制。例如，能夠量測盤式或鷗翼表面，以及彎曲點的輪廓
- 測量結果的再現性相當優秀 - 功率和 PV 測定的連拍間隔穩定性最佳
- 系統雜訊極低 - 對環境變化有很強的抵抗力
- 測量速度快 - 直徑最大 420 公釐
這套新一代裝置首次提供優於 ±50 nm (3σ) 的絕對測量精度，最高可達 90° 物體斜度。同時伴隨測量結果的超高再現性和低雜訊指數。
新型 3D 非接觸式輪廓儀/儀器非常適合需要最高精度且對製造過程至關重要的應用層面。對於斜度大、俯仰方向不同的表面和小表面（例如智慧型手機鏡頭的模具）最為有利。Taylor Hobson 能顯著降低雜訊並增強再現性，滿足鏡頭設計師和製造商想要快速進展的需求。
LUPHOSwap - 光學部件的完整形狀誤差表徵分析
LUPHOSwap 是一個適用於 LUPHOScan HD 平台的擴充工具，能對鏡頭的兩個表面進行完整的表徵分析。連續測量兩個表面。獨特的測量概念可實現兩側測量結果的絕對相關性。也就是說，在測量形狀誤差的同時，這套工具可確定準確的透鏡厚度、兩個表面的楔形和去中心誤差及其旋轉方向。此外，還可以評估鏡頭安裝位置。
這個強大的工具採用 LUPHOSmart 感應器技術的絕對測量能力、獨特的支架概念和額外的（偏轉）參考感應器。